GIS特高频局部放电测试方法

日期：2025-09-13 16:57

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摘要： GIS特高频局部放电测试方法特高频检测原理在GIS中发生局部放电时会产生电磁波，而GIS的金属外壳会将这种电磁波屏蔽掉一大部分，不过仍有小部分会通过金属壳体的绝缘盆或者观察窗传播出去频率高达数GHz，而且上升时间内有几个纳秒。可以将探头设置于工作状态中的GIS的绝缘盆，对局部放电活动进行检测。特高频检测部位 GIS每一个气室的绝缘盆或观察窗处。 GIS局放检测判断 a) 首先根据相位图谱特征判断测量信号是否具备典型放电图谱特征或与背景或其他测试位置有明显不同，若具备...

GIS特高频局部放电测试方法

特高频检测原理

在GIS中发生局部放电时会产生电磁波，而GIS的金属外壳会将这种电磁波屏蔽掉一大部分，不过仍有小部分会通过金属壳体的绝缘盆或者观察窗传播出去频率高达数GHz，而且上升时间内有几个纳秒。可以将探头设置于工作状态中的GIS的绝缘盆，对局部放电活动进行检测。

特高频检测部位

GIS每一个气室的绝缘盆或观察窗处。

GIS局放检测判断

a) 首先根据相位图谱特征判断测量信号是否具备典型放电图谱特征或与背景或其他测试位置有明显不同，若具备，继续如下分析和处理：排除外界环境干扰，将传感器放置于绝缘盆上检测信号与在空气中检测信号进行比较若一致并且信号较小，则基本可判断为外部干扰。若不一样或变大，则需进一步检测判断。

b) 检测相邻间隔的信号，根据各检测间隔的幅值大小（即信号衰减特性）初步定位局放部位。

c) 必要时可使用工具把传感器绑置于绝缘盆处进行长时间检测，时间不少于15分钟，进一步分析峰值图形、和三维检测图形，综合判断放电类型。

仪器本身具备放电分析参考，可根据放电特征分析放电类型。在条件具备时，还应用超声波局放仪进行的定位。

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